
Vollabsorberkammer Harbke
Messumgebung bis 10 GHz
- bis 10 GHz
- maximal 3 m
- 4 × 4 × 8 m (H × B × L)
- 0–60 V, bis 10 A
- dreiphasig, bis 32 A
- ca. 22 kVA
Wir messen während der Entwicklung, ordnen die Ergebnisse technisch ein und arbeiten mit Ihnen an den Ursachen – damit EMV-Themen nicht erst kurz vor dem Design Freeze auffallen.
Ausgangslage
In vielen Projekten wird EMV erst am Ende geprüft. Dann sind Leiterplatten gefertigt, Gehäusewerkzeuge beauftragt und Termine zugesagt – jede Änderung greift tief ins Produkt ein.
Zeigt sich in dieser Phase eine Grenzwertüberschreitung, bleiben meist nur teure Wege: nachträgliche Filter, Zusatzschirmungen, Layoutänderungen oder ein verschobener Marktstart. Häufig wird auf Verdacht getauscht, weil die Ursache unklar ist.
Wodurch sich entwicklungsbegleitende Messungen von einer akkreditierten Prüfung unterscheiden – im Zweck, nicht in der Sorgfalt – erklärt Was ist entwicklungsbegleitendes Testen?

Vorgehen
Vier Schritte, die sich so oft wiederholen, wie es die Entwicklung braucht. Beratung ist dabei Teil der Arbeit, keine getrennte Zusatzleistung.
Messung im passenden Testzentrum, mit dokumentiertem Aufbau und Betriebszuständen.
Störquelle an Leiterplatte, Leitung, Steckverbinder oder Gehäuseöffnung eingrenzen.
Konkrete Maßnahmen ableiten, Aufwand und erwartete Wirkung einschätzen.
Wirkung unter gleichen Bedingungen verifizieren und dokumentieren.
Nach der Messung
Umfang und Bewertungstiefe stimmen wir pro Projekt ab – abhängig von Produkt, Zielmarkt und Entwicklungsstand. Die folgenden Bestandteile sind die Regel.
Vorbereitung
Je vollständiger diese Angaben vorliegen, desto zielgerichteter läuft der Messtag. Was fehlt, klären wir vorab gemeinsam.
Je nach Fragestellung messen wir in der Vollabsorberkammer in Harbke oder in der Schirmkabine in Meine.

Messumgebung bis 10 GHz

Ergänzende geschirmte Testumgebung
Sie erhalten kurzfristig eine Rückmeldung zur passenden Messmöglichkeit.